Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość - Stanisław Adamczak

Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni.

Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce.

Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.

Książka „Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość" Stanisława Adamczaka, wydawnictwa PWN to pozycja z kategorii Technika.

Sklep dobrerzeczy.xyz co najmniej 50% zysku z każdego zamówienia przekazuje jako wsparcie do wybranej organizacji pożytku publicznego lub na wskazaną zbiórkę.